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为电子工程师提供实用的计算与测量工具,提升失效分析效率

SEM 尺寸测量

上传 SEM 图片,自动识别标尺,画线测量实际尺寸

  • 自动标尺识别
  • 像素转实际长度
  • 支持 PNG/JPG/TIF

XRF 元素归一化

输入元素含量,自动计算归一化百分比

  • 多元素输入
  • 自动归一化
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XPS 原子百分比计算

输入 Peak Area 和 RSF,输出 Atomic %

  • RSF 数据库
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  • 元素配比分析

IMC 厚度统计

输入多个 IMC 厚度测量值,输出统计分析

  • 平均值/标准差
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回流焊温度曲线分析

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  • Peak Temperature
  • TAL/Ramp Rate
  • PWI 计算

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专注于电子失效分析与材料分析领域, 提供专业技术内容与工程工具。

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